產(chǎn)品中心
當前位置:首頁產(chǎn)品中心半導體光學檢測系列Micro LED晶圓級綜合檢測分析系統(tǒng)
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半導體光學檢測系列
18698665927
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碳化硅成像檢測的應用領(lǐng)域
使用非線性SHG測試系統(tǒng)需要注意哪幾點?
高速線陣CMOS探測技術(shù)的演變與未來趨勢
提升碳化硅成像檢測系統(tǒng)精度的關(guān)鍵技術(shù)分析
飛秒時間分辨太赫茲光譜系統(tǒng)的適用性
創(chuàng)銳光譜堅持自主創(chuàng)新、技術(shù)獨立 推進高端科研儀器國產(chǎn)化替代和前沿引領(lǐng)
MICRO LED晶圓級綜合檢測系統(tǒng)明場/PL檢測類型:明場缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。
服務(wù)熱線:18698665927